Apple’ın birinci katlanabilir akıllı telefonu iPhone Duo, piyasaya sürülmesinin akabinde hem mühendislik başarısıyla hem de kimi kullanıcılardan gelen erken ekran arızası şikayetleriyle gündeme oturdu. Donanım ve tamir otoritesi iFixit, aygıtın iç yapısını ve mekanik aksamını tüm ayrıntılarıyla sergilediği kapsamlı söküm (teardown) görüntüsünü ve raporunu yayınladı.

Yayınlanan ayrıntılı görüntü incelemesinde, aygıtın katlanabilir akıllı telefonlar kategorisinde rekor bir tamir edilebilirlik puanı aldığı belirtilirken, ekran kırılmalarına ve renk bozulmalarına yol açabilecek kritik mühendislik ögeleri da mercek altına alındı.

iFixit’e Göre Katlanabilir Telefonlar İçin Tamir Rekoru

iFixit, söküm görüntüsünde yapılan tüm incelemelerin akabinde iPhone Duo modeline 10 üzerinden 5 süreksiz tamir edilebilirlik puanı verdi. Resmi yedek modüllerin piyasadaki erişilebilirliğine bağlı olarak sonuncu halini alacak olan bu skor, iFixit’in bugüne kadar incelediği katlanabilir akıllı telefonlar arasında verdiği en yüksek puan olarak kayıtlara geçti.

Video boyunca öne çıkan en dikkat cazibeli mühendislik ayrıntılarından biri batarya ve ekran yapısı oldu. Apple, aygıtın iki başka kanadına konumlandırılan bataryalarda voltaj uygulanarak hür kalan özel bir elektrikli yapıştırıcı (electrically releasable adhesive) kullandı. Bu sayede bataryalar, geçmiş modellerdeki üzere güçlü pürüzsüz çekme bantları yahut kimyasal çözücüler gerektirmeden son derece kolay bir halde yerinden çıkarılabildi. Ayrıyeten iç ekran çerçevesinde yoğun yapıştırıcı yerine mekanik klipslerin tercih edilmiş olması ve dış ekranın iç aksama ulaşmak için hasarsız biçimde sökülebilmesi, aygıtın modüler yapısını güçlendiren ögeler arasında gösterildi.

Menteşe Videosunda Detaylandırılan Ekran Arızası Sebepleri

Kullanıcıların katlama esnasında duydukları “çıtırtı” seslerinin çabucak akabinde iç ekranda beliren dikey çizgiler, iFixit takımının söküm görüntüsündeki ana odak noktalarından biri oldu. Grup; yüksek çözünürlüklü Tomografi (CT) taramaları, canlı söküm çekimleri ve Apple’ın geçmiş patent evraklarını birleştirerek hazırladığı 3D simülasyon modeliyle hasarın beklenen sebeplerini gösterdi:

• Merkezi Destek Çubuğu Baskısı: Telefon kapatılma konumuna geçerken menteşenin merkezinde yer alan takviye barının vaktinde geri çekilmeyerek hassas OLED paneline direkt fizikî baskı uygulaması.

• Kavisli Kılavuz Rayların Teması: Katlanma hareketini muhakkak bir açıda tutmak için yükselen kavisli yönlendirme raylarının, mekanik tolerans sapmalarında ekran katmanına sürtünmesi.

• Kritik Gerilim Noktaları: İki kanat arasındaki kablo geçiş kanalı ile ana menteşe dayanağının birleştiği bölgede birden fazla yapısal katmanın çakışarak fizikî tansiyonu tek bir alanda yoğunlaştırması.

Söküm görüntüsünde ayrıyeten aygıtın IP68 sertifikası doğrultusunda uygulanan fluoresan mikron-toz testi de gösterildi. Test sonrası menteşeden ses gelse de iç düzeneğe sızan toz ölçüsünün rakiplere kıyasla son derece düşük kaldığı görüldü.

Mikroskop altında yapılan incelemelerde ise Apple’ın katlanma izini (crease) gizlemek hedefiyle geliştirdiği mat nano-tekstürlü yüzey ve ovoid (oval) yapıdaki sub-piksel dizilimleri sergilendi. Özelleştirilmiş piksel geometrisinin ışık kırılmalarını azaltarak katlanma çizgisini görünmez kıldığı, ekran altı selfie kamerasının bulunduğu bölgede ise ışık geçirgenliğini artırmak ismine daha geniş aralıklı piksel nizamına geçildiği ayrıntılı çekimlerle doğrulandı.

Kaynak: Shiftdelete